-
-
Χαμηλή τιμή μέσω Factory-Direct
Συνεργαστείτε απευθείας με το εργοστάσιο ηλεκτρονικών για να αποκόψετε τον μεσάζοντα. Νέο πρωτότυπο με χαμηλή και εκπτωτική τιμή
-
Ασφαλής & Ποιότητα Αξιοπιστία
Σύστημα ασφάλισης ποιότητας για εξαιρετική ποιότητα προϊόντων. Έγκαιρη, Κάθε φορά παροχή ποιοτικών εξαρτημάτων.
-
Πάνω από 15 εκατομμύρια αποθέματα
100+ Κορυφαίος διάσημος παγκόσμιος κατασκευαστής, πάνω από 15 εκατομμύρια αποθέματα. Διαθέσιμο απόθεμα που υποστηρίζει την αγορά απευθείας με τιμή έκπτωσης.
-
Φιλικές υπηρεσίες προς τον πελάτη
Μία λύση εξατομικευμένη στις μοναδικές σας απαιτήσεις. Υποστήριξη σε 12 γλώσσες ιστοσελίδα, περισσότερη ευκολία και γρήγορες υπηρεσίες.
SN74BCT8374ADW
Κατασκευαστής
κατηγορία προιόντος
Περιγραφή
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
RFQ Email: [email protected] or Ερωτάται διαδικτυακά
Προδιαγραφές
-
σειρά74BCT
-
πακέτοTube
-
κατάσταση ανταλλακτικούActive
-
λογικός τύποςScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
-
τάση τροφοδοσίας4.5V ~ 5.5V
-
αριθμός bit8
-
Θερμοκρασία λειτουργίας0°C ~ 70°C
-
τύπος τοποθέτησηςSurface Mount
-
συσκευασία / θήκη24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
-
πακέτο συσκευών προμηθευτή24-SOIC
